数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
《半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 第II篇》 GB/T17574-1998 第3.6.2条
微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996
半导体集成电路模/数转换器和数/模转换器测试方法 QJ 3044-1998 第5.1.13条
电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法101
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
半导体集成电路运算放大器测试方法 QJ2491/1993 第5.10条
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027B-2021
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-1997 第5.1条
中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 GB/T17574-1998、GJB548A-1996、QJ 3044-1998、GJB360B-2009、GJB548B-2005、QJ2491/1993 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 电子元器件、TTL电路、CMOS电路CPLDFPGA、微处理器、MOS随机存储器SDRAM随机存储器FLASH、运算放大器、电子元器件破坏性物理分析、A/D（模数转换） 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
能力明细已保护
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