数据更新时间
2026-05-12
按“模数”筛选，展示 10 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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QJ 3044-1998
半导体集成电路模/数转换器和数/模转换器测试方法
检测项目：电源电流 I<Sub>D</Sub>、信噪比 S/N、线性误差E<Sub>L</Sub>、微分线性误差E<Sub>DL</Sub>、失调误差E<Sub>O</Sub>、微分线性误差EL(INL)、微分线性误EDL(DNL)、失调误差Eo
检测对象：A/D（模数转换）