数据更新时间
2026-05-12
按“误差”筛选，展示 13 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
QJ 3044-1998
半导体集成电路模/数转换器和数/模转换器测试方法
检测项目：线性误差E<Sub>L</Sub>、微分线性误差E<Sub>DL</Sub>、失调误差E<Sub>O</Sub>、增益误差E<Sub>G</Sub>、微分线性误差EL(INL)、失调误差Eo、失调误差EO、增益误差EG 等 10 项，点击展开全部
检测对象：A/D（模数转换）
检测对象：D/A（数模转换）