当前查看：中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心
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数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T 4937.4-2012”筛选，展示 1 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T4937-2012
半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST) GB/T4937.4-
检测项目：强加速潮热
检测对象：电子元器件