检测对象：TTL电路
输入钳位电压 V<Sub>IK</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>电源电流I<Sub>CC</Sub>输出高电平时电源电流I<Sub>CCH</Sub>输出低电平时电源电流 I<Sub>CCL</Sub>输出由低电平到高电平传输延迟时间t<Sub>PLH</Sub>输出由高电平到低电平传输延迟时间t<Sub>PHL</Sub>输出由高阻态到高电平传输延迟时间t<Sub>PZH</Sub>输出由高阻态到低电平传输延迟时间t<Sub>PZL</Sub>输出由高电平到高阻态传输延迟时间t<Sub>PHZ</Sub>输出由低电平到高阻态传输延迟时间t<Sub>PLZ</Sub>
检测对象：CMOS电路CPLDFPGA
输入钳位电压 V<Sub>IK</Sub>输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>电源电流I<Sub>DD</Sub>输出由低电平到高电平传输延迟时间t<Sub>PLH</Sub>输出由高电平到低电平传输延迟时间t<Sub>PHL</Sub>
检测对象：MOS随机存储器SDRAM随机存储器FLASH
全“0”全“1”功能测试校验板功能测试输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入负载电流 I<Sub>LI</Sub>工作状态电源电流 I<Sub>CC</Sub>维持状态电源电流 I<Sub>CCS</Sub>
检测对象：微处理器
输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>静态工作电流I<Sub>SB</Sub>动态工作电流I<Sub>A</Sub>功能测试t<Sub>est</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>输入低电平电流II<Sub>L</Sub>