数据更新时间
2026-05-12
按“Mo”筛选，展示 34 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 第II篇》
检测项目：输入钳位电压 V<Sub>IK</Sub>、输入高电平电压V<Sub>IH</Sub>、输入低电平电压V<Sub>IL</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、电源电流I<Sub>DD</Sub> 等 15 项，点击展开全部
检测对象：CMOS电路CPLDFPGA
检测对象：MOS随机存储器SDRAM随机存储器FLASH