数据更新时间
2026-05-12
按“Ra”筛选，展示 14 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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《半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 第II篇》
检测项目：全“0”全“1”功能测试、校验板功能测试、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入负载电流 I<Sub>LI</Sub>、工作状态电源电流 I<Sub>CC</Sub>、维持状态电源电流 I<Sub>CCS</Sub>
检测对象：MOS随机存储器SDRAM随机存储器FLASH