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2026-05-12
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半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：输入钳位电压 V<Sub>IK</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、电源电流I<Sub>CC</Sub>、输出高电平时电源电流I<Sub>CCH</Sub>、输出低电平时电源电流 I<Sub>CCL</Sub> 等 24 项，点击展开全部
检测对象：TTL电路
检测对象：CMOS电路CPLDFPGA
检测对象：MOS随机存储器SDRAM随机存储器FLASH
检测对象：微处理器
QJ 3044-1998
半导体集成电路模/数转换器和数/模转换器测试方法
检测项目：电源电流 I<Sub>D</Sub>、线性误差E<Sub>L</Sub>、微分线性误差E<Sub>DL</Sub>、失调误差E<Sub>O</Sub>、静态电源电流I<Sub>D</Sub>、增益误差E<Sub>G</Sub>、微分线性误差E<Sub>DL</Sub>(DNL）
检测对象：A/D（模数转换）
检测对象：D/A（数模转换）
SJ/T 10805-2000
电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2018
检测项目：输入失调电压 V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流 I<Sub>IB</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>
检测对象：电压比较器
QJ2491/1993
半导体集成电路运算放大器测试方法
检测项目：输入失调电压 V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流 I<Sub>IB</Sub>、开环电压增益A<Sub>VD</Sub>、共模抑制比 K<Sub>CMR</Sub>
检测对象：运算放大器
SJ20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项目：输出电压 V<Sub>O</Sub>、输出电流I<Sub>O</Sub>、电压调整率S<Sub>V</Sub>、电流调整率S<Sub>I</Sub>
检测对象：DC-DC
半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测项目：集电极-发射极击穿电压V<Sub>(BR) CEO</Sub>、集电极-基极截止电流I<Sub>CBO</Sub>、集电极-发射极饱和电压V<Sub>CEsat</Sub>、基极-发射极饱和电压V<Sub>BEsat</Sub>
检测对象：三极管
GB/T14028-1992
半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T14028-2018
检测项目：模拟电压工作范围V<Sub>A</Sub>、导通电阻R<Sub>ON</Sub>、截止态漏极漏电流I<Sub>D(OFF)</Sub>
检测对象：模拟开关
半导体分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
检测项目：正向压降V<Sub>F</Sub>、反向电流I<Sub>R</Sub>、反向击穿电压V<Sub>BR</Sub>
检测对象：二极管
半导体器件 分立器件 第8部分：场效应管 第IV章
检测项目：漏源击穿电压BV<Sub>DSS</Sub>、阈值电压V<Sub>GS(TO)</Sub>、通态漏源电阻r<Sub>ds(on)</Sub>
检测对象：场效应管
GB/T4377-1996
半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T4377-2018
检测项目：输出电压V<Sub>o</Sub>
检测对象：电压调整器