数据更新时间
2026-05-12
按“GJB 4027A-2006”筛选，展示 7 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 7 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目1101/2.4、1102/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目1101/2.4、1102/
检测项目：粒子碰撞噪声检测
检测对象：电子元器件
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目1101/2.2、1102/2.2、1103/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目1101/2.2、1102/2.2、1103/
检测项目：外观目检
检测对象：电子元器件
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目1101/2.5、1102/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目1101/2.5、1102/
检测项目：密封性检查
检测对象：电子元器件
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目1101/2.8、1102/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目1101/2.8、1102/
检测项目：键合强度
检测对象：电子元器件
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB4027A-2006 工作项目1101/2.10、1102/
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB4027A-2006 工作项目1101/2.10、1102/
检测项目：剪切强度
检测对象：电子元器件
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目1101/2.3、1102/2.3、1103/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目1101/2.3、1102/2.3、1103/
检测项目：X射线检查
检测对象：电子元器件
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目1101/2.7、1102/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目1101/2.7、1102/
检测项目：内部目检
检测对象：电子元器件