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2026-05-12
按“电流”筛选，展示 41 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 11 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项目：输入高电平电流IIH、输入低电平电流IIL、输出高电平电流IOH、输出低电平电流IOL、输出高阻态时高电平电流IOZH、输出高阻态时低电平电流IOZL、电源电流IDD
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
SJ/T 10805-2018
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输入失调电流IIO、输入偏置电流IIB、正电源电流I+、负电源电流I-、高电平输出电流IOH、低电平输出电流IOL
检测对象：半导体集成电路电压比较器
半导体集成电路运算放大器测试方法
检测项目：输出短路电流IOS、输入偏置电流IIB、输入失调电流IIO、正电源电流I+、负电源电流I-
检测对象：半导体集成电路（电压型）运算放大器
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：电流调整率SI、耗散电流ID、耗散电流变化△ID、短路电流IOS、输出电流限制Ilimit
检测对象：半导体集成电路电压调整器
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目：截止态漏极漏电流ID(off)、截止态源极漏电流IS(off)、导通态漏电流IDS(on)
检测对象：半导体集成电路模拟开关
SJ 20646-97
混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项目：输出电流、电流调整率、输入电流
检测对象：微电路模块（DC/DC变换器）
检测对象：混合集成电路（DC/DC变换器）
SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法
检测项目：反向电流（二极管）、输出截止电流、电流传输比
检测对象：光电耦合器
GB/T 4587-94
半导体分立器件和集成电路第7部分双极性晶体管 第IV章第2节方法
检测项目：集电极-基极截止电流、发射极-基极截止电流
检测对象：双极型晶体管
GB/T 4586-94
半导体器件分立器件第8部分场效应晶体管 第IV章
检测项目：栅极截止电流或栅极泄漏电流、漏极电流
检测对象：场效应管
GJB 63C-2015
固体电解质钽固定电容器通用规范
检测项目：直流漏电流
检测对象：钽电容
半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 第IV章第2节方法
检测项目：反向电流
检测对象：二极管