当前查看：扬州扬杰电子科技股份有限公司实验室
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数据更新时间
2026-05-12
按“F-”筛选，展示 3 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
MIL-STD-750F-2022
半导体器件的环境试验方法 第1部分:测试方法 方法1037 间歇工作寿命（抽样方案） 方法
检测项目：高温反偏、间歇老化
检测对象：半导体电子元器件
JESD22-A104F-2023
温度循环
检测项目：温度循环试验