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数据更新时间
2026-05-12
已按“微米级长度”定位到该机构。登录后查看该机构与关键词匹配的能力明细，也可以留下需求让工程师帮您确认。
能力摘要
来自该机构公开能力范围。
微米级长度的扫描电镜测量方法通则 GB/T 16594-2008 6
移动通信系统无源天线测量方法 YD/T 2868-2020 5.1、5.3
半导体器件第16-1部分：微波集成电路 放大器 GB/T 20870.1-2007 5.13
移动通信天线通用技术规范 GB/T 9410-2008 5.3.2
纳米技术 纳米颗粒尺寸测量 原子力显微术 GB/T 33714-2017 全部条款
纳米技术 原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法 GB/T 36969-2018 全部条款
移动通信系统多频段基站无源天线 YD∕T 2867-2015 8.1
纳米级长度的扫描电镜测量方法通则 GB/T 20307-2006 5.6
清华大学电子信息综合检测平台已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 GB/T 16594-2008、YD/T 2868-2020、GB/T 20870.1-2007、GB/T 9410-2008、GB/T 33714-2017、GB/T 36969-2018 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 移动通信天线、粉末、微纳米材料（含超细粉体）、固体材料、集成电路、半导体光电器件 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
能力明细已保护
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