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数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T 36969-2018”筛选，展示 2 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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纳米技术 原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法 全部条款
检测项目：纳米薄膜厚度
检测对象：半导体光电器件
检测对象：粉末、微纳米材料（含超细粉体）