数据更新时间
2026-05-12
按“F”筛选，展示 18 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
MIL-STD-750F:2012
半导体测试方法测试标准
检测项目：间歇寿命试验、漏源/集射间反向击穿电压、阈值电压、导通内阻、漏/集电极反向漏电流、栅极漏电流、通态正向压降、体二极管压降 等 15 项，点击展开全部
检测对象：半导体器件
JESD22-A108F:2017
温度、偏压和工作寿命
检测项目：高温反偏试验、高温栅偏试验
检测对象：半导体器件
JESD22-A104F:2020
温度循环测试
检测项目：温度循环试验
检测对象：半导体器件