数据更新时间
2026-05-12
按“GJB 4027A-2006”筛选，展示 2 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2006 方法1101、1102、
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2006 方法1101、1102、
检测项目：X射线检查
检测对象：电子元器件
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2006 方法1103
《军用电子元器件破坏性物理分析方法》 GJB 4027A-2006 方法1103
检测项目：声学扫描显微镜检查
检测对象：电子元器件