长沙韶光半导体有限公司检测实验室

能力范围

按“GB/T17574-1998”筛选，展示 14 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。

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GB/T 17574-1998

《半导体器件集成电路第 2 部分：数字集成电路》第Ⅳ篇第 2 节

12 项检测项目

检测项目：输入箝位电压<I>V</I><Sub>IK</Sub>、输出高电平电压<I>V</I><Sub>OH</Sub>、输出低电平电压 <I>V</I><Sub>OL</Sub>、输入电流<I>I</I><Sub>I</Sub>、输入高电平电流<I>I</I><Sub>IH</Sub>、输入低电平电流<I>I</I><Sub>IL</Sub>、输出短路电流<I>I</I><Sub>OS</Sub>、输出高阻态电流 <I>I</I><Sub>OZ</Sub> 等 12 项，点击展开全部

检测对象：数字集成电路

输入箝位电压<I>V</I><Sub>IK</Sub>输出高电平电压<I>V</I><Sub>OH</Sub>输出低电平电压 <I>V</I><Sub>OL</Sub>输入电流<I>I</I><Sub>I</Sub>输入高电平电流<I>I</I><Sub>IH</Sub>输入低电平电流<I>I</I><Sub>IL</Sub>输出短路电流<I>I</I><Sub>OS</Sub>输出高阻态电流 <I>I</I><Sub>OZ</Sub>静态条件下的电源电流<I>I</I><Sub>CC</Sub>功能测试输出高电平电流 <I>I</I><Sub>OH</Sub>

检测对象：半导体集成电路模拟开关

输入高电平电流<I>I</I><Sub>IH</Sub>输入低电平电流<I>I</I><Sub>IL</Sub>静态条件下的电源电流<I>I</I><Sub>DD</Sub>