当前查看:常州银河世纪微电子股份有限公司试验中心
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数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T4586-1994”筛选,展示 4 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 1 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
半导体器件分立器件 第8部分:场效应晶体管 第IV章
检测项目:栅源阈值电压、漏源通态电阻、栅级泄漏电流、漏极截止电流
检测对象:电子元器件