数据更新时间
2026-05-12
按“Rt”筛选，展示 6 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC 60747-2:2016
半导体器件 - 第2部分：分立器件 - 整流二极管
检测项目：结-壳热阻 （Rth(j-c)）、结-环境热阻 （Rth(j-a)）
检测对象：二极管
IEC 60747-9:2019
半导体器件 第9部分：分立器件 绝缘栅双极晶体管 (IGBT)
检测项目：结-壳热阻（Rth(j-c)）、结-环境热阻 （Rth(j-a)）
检测对象：绝缘栅双极晶体管(IGBT)
JESD51-14 2010-11
用于测量半导体器件结壳热阻 （单热流通路）的瞬态双界面测试方法
检测项目：结-壳热阻（Rthjc，RθJC，θJC）
检测对象：功率半导体器件