数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第IV篇 第2节 1
产品几何技术规范(GPS)几何公差 检测与验证 GB/T 1958-2017 附录C.10
半导体集成电路电压比较器测试方法 SJ/T 10805-2018 5.1
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992 2.1
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法1031
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021 方法1032
微电路试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1008.1
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 5.1
西南技术物理研究所检测校准中心实验室已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 GB/T17574-1998、GB/T 1958-2017、SJ/T 10805-2018、GB/T 14030-1992、GJB 128A-1997、GJB 128B-2021 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 电子元器件、电工电子产品、机械零部件、TTL电路、电压比较器、CMOS电路、时基电路、运算放大器 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
建议换成标准号、检测对象或检测项目关键词再试，或切换到其他分公司查看。