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数据更新时间
2026-05-12
按“PIND”筛选，展示 17 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 17 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 1003/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 1003/
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：半导体分立器件
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 1003/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 1003/
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：半导体分立器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 2020A
微电子器件试验方法和程序 GJB 548A-1996 2020A
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 1101/2.4、1102/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 1101/2.4、1102/
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：集成电路
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 1101/2.5、1102/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 1101/2.5、1102/
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：集成电路
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 1201/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 1201/
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：光电器件
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 1201/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 1201/
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：光电器件
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021
半导体分立器件试验方法 GJB 128B-2021
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：电子元器件
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 1301/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 1301/
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：声表面波器件
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 1301/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 1301/
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：声表面波器件
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0701/2.3、0702/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0701/2.3、0702/
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：继电器
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 0701/2.4、0702/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 0701/2.4、0702/
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：继电器
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0901/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 0901/
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：石英晶体和压电元件
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 0901/2.5、0902/
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 0901/2.5、0902/
检测项目：粒子碰撞噪声检测（PIND）
检测对象：石英晶体和压电元件