数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 IEC 60747-8:2021 6.2.2.3
半导体器件 分立器件 第9部分: 绝缘栅双极晶体管(IGBTs) IEC 60747-9:2019 6.2.10.2
半导体器件 分立器件 第2部分: 整流二极管 IEC 60747-2:2016 5.3.2
半导体器件 分立器件 第15部分:隔离功率半导体器件 IEC 60747-15:2024 6.1
环境试验 第2部分：试验方法 试验Ea和指南：冲击 IEC 60068-2-27:2008
环境试验 第2部分:试验方法 试验Fh:振动、宽带随机和指南 IEC 60068-2-64:2019
环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc：振动(正弦) IEC 60068-2-6:2007
半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分:温度循环 IEC 60749-25:2003
浙江翠展微电子有限公司实验中心已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 IEC 60747-8:2021、IEC 60747-9:2019、IEC 60747-2:2016、IEC 60747-15:2024、IEC 60068-2-27:2008、IEC 60068-2-64:2019 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 半导体器件、场效应晶体管、绝缘栅双极晶体管、整流二极管 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
建议换成标准号、检测对象或检测项目关键词再试，或切换到其他分公司查看。