数据更新时间
2026-05-12
按“延迟”筛选，展示 10 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
《半导体集成电路 电平转换器测试方法》
检测项目：输出由低电平到高电平传输延迟时间、输出由高电平到低电平传输延迟时间、输出由高阻态到高电平传输延迟时间、输出由高阻态到低电平传输延迟时间、输出由高电平到高阻态传输延迟时间、输出由低电平到高阻态传输延迟时间
检测对象：电平转换器
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路第Ⅳ篇 3节
检测项目：延迟时间、延迟时间和转换时间、延迟和转换时间（MOS电路）
检测对象：快闪存储器
检测对象：半导体集成电路-TTL电路
检测对象：单片集成电路
检测对象：半导体集成电路COMS电路