数据更新时间
2026-05-12
按“导体”筛选，展示 2 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
MIL-STD-750F-2012
半导体器件的环境试验方法 第1部分:测试方法 方法1038 老炼（用于二极管,整流器和稳压管） 4.2.3.3，
检测项目：温度工作寿命
检测对象：电子元器件
MIL-STD-750F-2012 Method 1037
半导体器件的环境试验方法 第1部分：方法1037.3 间歇工作寿命(抽样方案) MIL-STD-750F-2012方法
检测项目：间歇工作寿命（抽样方案）
检测对象：电子元器件