数据更新时间
2026-05-12
按“失调”筛选，展示 6 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法
检测项目：输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算电压放大器
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 方法
检测项目：输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压比较器
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018 方法
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018 方法
检测项目：失调误差E<Sub>O</Sub>
检测对象：集成电路模拟数字、数字模拟转换器（仅限 14 位及 14 位以 下）