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重庆宏景芯科微电子技术研究院有限公司检测中心

当前查看:重庆宏景芯科微电子技术研究院有限公司检测中心

重庆市

地址:重庆高新区西永街道西园一路28号惠普研发楼01栋1-2层

联系电话:023-65008089

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

按“老炼”筛选,展示 8 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 4 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法

半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法

3 项检测项目

检测项目:老炼(二极管、整流管、稳压管)、老炼(晶体管)、老炼和寿命试验【功率场效应晶体管或绝缘栅双极晶体管(IGBT)】

检测对象:半导体分立器件

老炼(二极管、整流管、稳压管)老炼(晶体管)老炼和寿命试验【功率场效应晶体管或绝缘栅双极晶体管(IGBT)】

半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法

半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法

3 项检测项目

检测项目:老炼(二极管、整流管、稳压管)、老炼(晶体管)、老炼和寿命试验【功率场效应晶体管或绝缘栅双极晶体管(IGBT)】

检测对象:半导体分立器件

老炼(二极管、整流管、稳压管)老炼(晶体管)老炼和寿命试验【功率场效应晶体管或绝缘栅双极晶体管(IGBT)】

微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1015.1条件D

微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1015.1条件D

1 项检测项目

检测项目:老炼试验

检测对象:微电子器件

老炼试验

微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1015.1条件D

微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1015.1条件D

1 项检测项目

检测项目:老炼试验

检测对象:微电子器件

老炼试验

机构信息

机构名称

重庆宏景芯科微电子技术研究院有限公司检测中心

所在地区

重庆市

企业地址

重庆高新区西永街道西园一路28号惠普研发楼01栋1-2层

联系电话

023-65008089

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