重庆宏景芯科微电子技术研究院有限公司检测中心

能力范围

按“GJB 9147-2017”筛选，展示 9 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。

按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017 方法

9 项检测项目

检测项目：输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、开环电压增益A<Sub>VO</Sub>、共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、输出峰峰电压V<Sub>OPP</Sub> 等 9 项，点击展开全部

检测对象：半导体集成电路运算电压放大器

输入失调电压V<Sub>IO</Sub>输入失调电流I<Sub>IO</Sub>输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>静态功耗P<Sub>D</Sub>开环电压增益A<Sub>VO</Sub>共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>输出峰峰电压V<Sub>OPP</Sub>输出短路电流I<Sub>OS</Sub>