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数据更新时间
2026-05-12
按“复位”筛选，展示 2 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目：复位电压V<Sub>R</Sub>、复位电流I<Sub>R</Sub>
检测对象：半导体集成电路时基电路