数据更新时间
2026-05-12
按“延迟”筛选，展示 4 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第3节
检测项目：延迟时间和转换时间
检测对象：半导体集成电路TTL电路
检测对象：半导体器件集成电路存储器
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：启动延迟t<Sub>TR</Sub>
检测对象：混合集成电路DC/DC电源模块
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
检测项目：脉冲上升时间、下降时间、延迟时间
检测对象：半导体光电耦合器