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2026-05-12
按“电流”筛选，展示 102 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、电源电流I<Sub>CC</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>、负向锁定的输入/输出的电压或电流、正向锁定的输入/输出的电压或电流 等 11 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路TTL电路
检测对象：半导体器件集成电路存储器
检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路
检测对象：半导体集成电路模拟开关
检测对象：CMOS数字集成电路
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项目：输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>、输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>、电源电流I<Sub>DD</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>
检测对象：半导体集成电路模拟开关
检测对象：CMOS数字集成电路
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
检测项目：输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、电源电流I<Sub>CC</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>
检测对象：半导体集成电路TTL电路
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
半导体光电耦合器测试方法 SJ/T 2215-2015
检测项目：正向电流、反向电流、输出截止电流、电流传输比、高电平电源电流、低电平电源电流
检测对象：半导体光电耦合器
半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 第Ⅳ篇 第3节
检测项目：输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、电源电流、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、电流调整率S<Sub>I</Sub>、耗散电流I<Sub>D</Sub>和耗散电流变化△I<Sub>D</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
检测对象：半导体集成电路电压调整器
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
检测项目：电源电流I<Sub>CC</Sub>、模拟输入电流I<Sub>I</Sub>、满度输出电流I<Sub>O</Sub>、模拟输出漏电流I<Sub>OL</Sub>
检测对象：集成电路模拟/数字转换器
检测对象：集成电路数字/模拟转换器
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目：复位电流I<Sub>R</Sub>、触发电流I<Sub>TR</Sub>、阈值电流I<Sub>T</Sub>、静态电源电流I<Sub>+</Sub>
检测对象：半导体集成电路时基电路
半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章 第1节
检测项目：集电极-基极截止电流、发射极-基极截止电流、集电极-发射极截止电流、共发射极正向电流传输比
检测对象：双极型晶体管
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项目：输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、高电平输出电流I<Sub>OH</Sub>、低电平输出电流I<Sub>OL</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压比较器
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目：输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、高电平输出电流I<Sub>OH</Sub>、低电平输出电流I<Sub>OL</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压比较器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
检测项目：输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目：输出电流I<Sub>O</Sub>、电流调整率S<Sub>I</Sub>、输入电流I<Sub>I</Sub>
检测对象：混合集成电路DC/DC电源模块
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目：截止态漏极漏电流I<Sub>Doff</Sub>、截止态源极漏电流I<Sub>Soff</Sub>、导通态漏电流I<Sub>DSon</Sub>
检测对象：半导体集成电路模拟开关
半导体器件 分立器件第8部分：场效应晶体管 第Ⅳ章 第2节
检测项目：栅极截止电流或栅极漏泄电流、漏极电流、漏极截止电流
检测对象：场效应晶体管
固体继电器总规范 GJB 1515B-2017
固体继电器总规范 GJB 1515B-2017
检测项目：输入接通电流、控制电流、输出漏电流
检测对象：固体继电器
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项目：输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>
检测对象：半导体集成电路运算放大器
半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 第Ⅳ章 第1节
检测项目：反向电流、调整电流
检测对象：开关二极管
检测对象：调整二极管(包含TVS)
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：电流调整率S<Sub>I</Sub>、耗散电流I<Sub>D</Sub>和耗散电流变化△I<Sub>D</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压调整器
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
检测项目：数字输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、数字输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>
检测对象：集成电路模拟/数字转换器
检测对象：集成电路数字/模拟转换器
半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管
检测项目：反向电流
检测对象：整流二极管
整流二极管测试方法
检测项目：反向电流
检测对象：整流二极管
固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 63C-2015
固体电解质钽固定电容器通用规范 GJB 63C-2015
检测项目：直流漏电流
检测对象：钽电容器
晶体振荡器通用规范 GJB 1648A-2011
晶体振荡器通用规范 GJB 1648A-2011
检测项目：输入电流功率
检测对象：晶体振荡器