数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T 14028-2018”筛选,展示 7 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
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半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目:导通电阻R<Sub>on</Sub>、截止态漏极漏电流I<Sub>Doff</Sub>、截止态源极漏电流I<Sub>Soff</Sub>、导通态漏电流I<Sub>DSon</Sub>、开启时间t<Sub>on</Sub>、关断时间t<Sub>off</Sub>、导通电阻路差△R<Sub>on</Sub>
检测对象:半导体集成电路模拟开关