数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T 4377-2018”筛选,展示 8 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 1 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目:电压调整率S<Sub>V</Sub>、电流调整率S<Sub>I</Sub>、电源纹波抑制比S<Sub>RIP</Sub>、输出噪声电压V<Sub>NO</Sub>、耗散电流I<Sub>D</Sub>和耗散电流变化△I<Sub>D</Sub>、基准电压V<Sub>REF</Sub>、最小输入输出电压差V<Sub>DROP</Sub>、输出电压V<Sub>O</Sub>和输出电压偏差△V<Sub>O</Sub>
检测对象:半导体集成电路电压调整器