数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T 6798-1996”筛选,展示 11 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 1 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目:输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、开环电压增益A<Sub>VD</Sub>、最大共模输入电压V<Sub>ICM</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub> 等 11 项,点击展开全部
检测对象:半导体集成电路电压比较器