数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T17574-1998”筛选，展示 46 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、电源电流I<Sub>CC</Sub>、输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub> 等 21 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路TTL电路
检测对象：半导体器件集成电路存储器
检测对象：集成电路模拟/数字转换器
检测对象：集成电路数字/模拟转换器
检测对象：半导体集成电路微处理器及外围接口电路
检测对象：半导体集成电路模拟开关
检测对象：半导体集成电路时基电路
检测对象：CMOS数字集成电路