数据更新时间
2026-05-12
按“Mo”筛选，展示 17 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项目：输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>、输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub> 等 11 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路模拟开关
检测对象：半导体集成电路时基电路
检测对象：CMOS数字集成电路
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>
检测对象：CMOS数字集成电路