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南京京瀚禹电子工程技术有限公司检测中心

当前查看:南京京瀚禹电子工程技术有限公司检测中心

江苏省 · 南京市

地址:南京市江宁区秣陵街道家园中路28号4号楼1楼(江宁开发区)

联系电话:025-52891086

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

按“U”筛选,展示 186 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 14 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

GB/T 17940-2000

半导体器件集成电路第3部分:模拟集成电路 第Ⅳ篇 第3节

15 项检测项目

检测项目:输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、开环电压增益A<Sub>VO</Sub>、输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>、输出电压转换速率S<Sub>R</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、输出峰峰电压V<Sub>OPP</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub> 等 15 项,点击展开全部

检测对象:半导体集成电路运算放大器

输入失调电流I<Sub>IO</Sub>开环电压增益A<Sub>VO</Sub>输入失调电压V<Sub>IO</Sub>共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>输出电压转换速率S<Sub>R</Sub>电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>输出峰峰电压V<Sub>OPP</Sub>输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>

检测对象:半导体集成电路电压调整器

电压调整率S<Sub>V</Sub>电流调整率S<Sub>I</Sub>电源纹波抑制比S<Sub>RIP</Sub>输出噪声电压V<Sub>NO</Sub>耗散电流I<Sub>D</Sub>和耗散电流变化△I<Sub>D</Sub>基准电压V<Sub>REF</Sub>输出电压V<Sub>O</Sub>和输出电压偏差△V<Sub>O</Sub>

半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

13 项检测项目

检测项目:输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、开环电压增益A<Sub>VO</Sub>、共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>、输出电压转换速率S<Sub>R</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、输出峰峰电压V<Sub>OPP</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub> 等 13 项,点击展开全部

检测对象:半导体集成电路运算放大器

输入失调电压V<Sub>IO</Sub>静态功耗P<Sub>D</Sub>开环电压增益A<Sub>VO</Sub>共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>输出电压转换速率S<Sub>R</Sub>电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>输出峰峰电压V<Sub>OPP</Sub>输出短路电流I<Sub>OS</Sub>增益带宽乘积G<Sub>BW</Sub>最大共模输入电压V<Sub>ICM</Sub>最大差模输入电压V<Sub>IDM</Sub>输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>输入失调电流I<Sub>IO</Sub>

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017

半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017

13 项检测项目

检测项目:输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、开环电压增益A<Sub>VO</Sub>、共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>、输出电压转换速率S<Sub>R</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输出峰峰电压V<Sub>OPP</Sub> 等 13 项,点击展开全部

检测对象:半导体集成电路运算放大器

输入失调电流I<Sub>IO</Sub>静态功耗P<Sub>D</Sub>开环电压增益A<Sub>VO</Sub>共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>输出电压转换速率S<Sub>R</Sub>电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>输入失调电压V<Sub>IO</Sub>输出峰峰电压V<Sub>OPP</Sub>输出短路电流I<Sub>OS</Sub>增益带宽乘积G<Sub>BW</Sub>最大共模输入电压V<Sub>ICM</Sub>最大差模输入电压V<Sub>IDM</Sub>输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>

半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

13 项检测项目

检测项目:输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、开环电压增益A<Sub>VD</Sub>、共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>、最大共模输入电压V<Sub>ICM</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub> 等 13 项,点击展开全部

检测对象:半导体集成电路电压比较器

输入失调电压V<Sub>IO</Sub>输入失调电流I<Sub>IO</Sub>输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>静态功耗P<Sub>D</Sub>开环电压增益A<Sub>VD</Sub>共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>最大共模输入电压V<Sub>ICM</Sub>电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>最大差模输入电压V<Sub>IDM</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>高电平输出电流I<Sub>OH</Sub>低电平输出电流I<Sub>OL</Sub>
GB/T 17574-1998

半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节

11 项检测项目

检测项目:输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、电源电流I<Sub>CC</Sub>、输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub> 等 11 项,点击展开全部

检测对象:半导体集成电路TTL电路

输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出短路电流I<Sub>OS</Sub>电源电流I<Sub>CC</Sub>输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>

检测对象:半导体器件集成电路存储器

输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>

检测对象:集成电路模拟/数字转换器

输入阻抗Z<Sub>IS</Sub>

检测对象:集成电路数字/模拟转换器

输入阻抗Z<Sub>IS</Sub>

检测对象:半导体集成电路微处理器及外围接口电路

输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>

检测对象:半导体集成电路模拟开关

输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>

检测对象:半导体集成电路时基电路

输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>

检测对象:CMOS数字集成电路

输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>

集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018

集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018

11 项检测项目

检测项目:电源电流I<Sub>CC</Sub>、功耗P<Sub>W</Sub>、模拟输入电流I<Sub>I</Sub>、增益误差E<Sub>G</Sub>、失调误差E<Sub>O</Sub>、满度误差E<Sub>FS</Sub>、直流电源抑制比PSRR<Sub>DC</Sub>、双极零点误差E<Sub>BZ</Sub> 等 11 项,点击展开全部

检测对象:集成电路模拟/数字转换器

电源电流I<Sub>CC</Sub>功耗P<Sub>W</Sub>模拟输入电流I<Sub>I</Sub>增益误差E<Sub>G</Sub>失调误差E<Sub>O</Sub>满度误差E<Sub>FS</Sub>直流电源抑制比PSRR<Sub>DC</Sub>

检测对象:集成电路数字/模拟转换器

电源电流I<Sub>CC</Sub>功耗P<Sub>W</Sub>失调误差E<Sub>O</Sub>双极零点误差E<Sub>BZ</Sub>增益误差E<Sub>G</Sub>满度误差E<Sub>FS</Sub>直流电源抑制比PSRR<Sub>DC</Sub>输出顺从电压范围V<Sub>OC</Sub>满度输出电流I<Sub>O</Sub>模拟输出漏电流I<Sub>OL</Sub>

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

11 项检测项目

检测项目:输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>、输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub> 等 11 项,点击展开全部

检测对象:半导体集成电路模拟开关

输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>

检测对象:半导体集成电路时基电路

输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>

检测对象:CMOS数字集成电路

输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>电源电流I<Sub>DD</Sub>输出短路电流I<Sub>OS</Sub>
GB/T 6798-1996

半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

11 项检测项目

检测项目:输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、开环电压增益A<Sub>VD</Sub>、最大共模输入电压V<Sub>ICM</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub> 等 11 项,点击展开全部

检测对象:半导体集成电路电压比较器

输入失调电压V<Sub>IO</Sub>输入失调电流I<Sub>IO</Sub>输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>静态功耗P<Sub>D</Sub>开环电压增益A<Sub>VD</Sub>最大共模输入电压V<Sub>ICM</Sub>电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>高电平输出电流I<Sub>OH</Sub>低电平输出电流I<Sub>OL</Sub>

半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996

半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996

9 项检测项目

检测项目:输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、电源电流I<Sub>CC</Sub>、输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub> 等 9 项,点击展开全部

检测对象:半导体集成电路TTL电路

输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出短路电流I<Sub>OS</Sub>电源电流I<Sub>CC</Sub>输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>

混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

9 项检测项目

检测项目:输出电压V<Sub>O</Sub>、输出电流I<Sub>O</Sub>、输出纹波电压V<Sub>RIP</Sub>、电压调整率S<Sub>V</Sub>、电流调整率S<Sub>I</Sub>、输入电流I<Sub>I</Sub>、启动过冲V<Sub>TO</Sub>、启动延迟t<Sub>TR</Sub> 等 9 项,点击展开全部

检测对象:混合集成电路DC/DC电源模块

输出电压V<Sub>O</Sub>输出电流I<Sub>O</Sub>输出纹波电压V<Sub>RIP</Sub>电压调整率S<Sub>V</Sub>电流调整率S<Sub>I</Sub>输入电流I<Sub>I</Sub>启动过冲V<Sub>TO</Sub>启动延迟t<Sub>TR</Sub>开关频率f<Sub>e</Sub>
GB/T 14030-1992

半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

8 项检测项目

检测项目:复位电压V<Sub>R</Sub>、复位电流I<Sub>R</Sub>、触发电压V<Sub>TR</Sub>、触发电流I<Sub>TR</Sub>、阈值电压V<Sub>T</Sub>、阈值电流I<Sub>T</Sub>、控制端电压V<Sub>C</Sub>、静态电源电流I<Sub>+</Sub>

检测对象:半导体集成电路时基电路

复位电压V<Sub>R</Sub>复位电流I<Sub>R</Sub>触发电压V<Sub>TR</Sub>触发电流I<Sub>TR</Sub>阈值电压V<Sub>T</Sub>阈值电流I<Sub>T</Sub>控制端电压V<Sub>C</Sub>静态电源电流I<Sub>+</Sub>
GB/T 4377-2018

半导体集成电路电压调整器测试方法

8 项检测项目

检测项目:电压调整率S<Sub>V</Sub>、电流调整率S<Sub>I</Sub>、电源纹波抑制比S<Sub>RIP</Sub>、输出噪声电压V<Sub>NO</Sub>、耗散电流I<Sub>D</Sub>和耗散电流变化△I<Sub>D</Sub>、基准电压V<Sub>REF</Sub>、最小输入输出电压差V<Sub>DROP</Sub>、输出电压V<Sub>O</Sub>和输出电压偏差△V<Sub>O</Sub>

检测对象:半导体集成电路电压调整器

电压调整率S<Sub>V</Sub>电流调整率S<Sub>I</Sub>电源纹波抑制比S<Sub>RIP</Sub>输出噪声电压V<Sub>NO</Sub>耗散电流I<Sub>D</Sub>和耗散电流变化△I<Sub>D</Sub>基准电压V<Sub>REF</Sub>最小输入输出电压差V<Sub>DROP</Sub>输出电压V<Sub>O</Sub>和输出电压偏差△V<Sub>O</Sub>
GB/T 14028-2018

半导体集成电路模拟开关测试方法

7 项检测项目

检测项目:导通电阻R<Sub>on</Sub>、截止态漏极漏电流I<Sub>Doff</Sub>、截止态源极漏电流I<Sub>Soff</Sub>、导通态漏电流I<Sub>DSon</Sub>、开启时间t<Sub>on</Sub>、关断时间t<Sub>off</Sub>、导通电阻路差△R<Sub>on</Sub>

检测对象:半导体集成电路模拟开关

导通电阻R<Sub>on</Sub>截止态漏极漏电流I<Sub>Doff</Sub>截止态源极漏电流I<Sub>Soff</Sub>导通态漏电流I<Sub>DSon</Sub>开启时间t<Sub>on</Sub>关断时间t<Sub>off</Sub>导通电阻路差△R<Sub>on</Sub>

集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006

集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006

6 项检测项目

检测项目:功耗P<Sub>W</Sub>、数字输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、数字输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、数字输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、数字输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、增益误差E<Sub>G</Sub>、失调误差E<Sub>O</Sub>

检测对象:集成电路模拟/数字转换器

功耗P<Sub>W</Sub>数字输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、数字输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>数字输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>数字输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>增益误差E<Sub>G</Sub>失调误差E<Sub>O</Sub>

检测对象:集成电路数字/模拟转换器

失调误差E<Sub>O</Sub>增益误差E<Sub>G</Sub>数字输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、数字输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>

机构信息

机构名称

南京京瀚禹电子工程技术有限公司检测中心

所在地区

江苏省 · 南京市

企业地址

南京市江宁区秣陵街道家园中路28号4号楼1楼(江宁开发区)

联系电话

025-52891086

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