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2026-05-12
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半导体器件集成电路第3部分:模拟集成电路 第Ⅳ篇 第3节
检测项目:输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、开环电压增益A<Sub>VO</Sub>、输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>、输出电压转换速率S<Sub>R</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、输出峰峰电压V<Sub>OPP</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub> 等 15 项,点击展开全部
检测对象:半导体集成电路运算放大器
检测对象:半导体集成电路电压调整器
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
半导体集成电路运算(电压)放大器测试讲方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项目:输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、开环电压增益A<Sub>VO</Sub>、共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>、输出电压转换速率S<Sub>R</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、输出峰峰电压V<Sub>OPP</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub> 等 13 项,点击展开全部
检测对象:半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
检测项目:输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、开环电压增益A<Sub>VO</Sub>、共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>、输出电压转换速率S<Sub>R</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输出峰峰电压V<Sub>OPP</Sub> 等 13 项,点击展开全部
检测对象:半导体集成电路运算放大器
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项目:输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、开环电压增益A<Sub>VD</Sub>、共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>、最大共模输入电压V<Sub>ICM</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub> 等 13 项,点击展开全部
检测对象:半导体集成电路电压比较器
半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节
检测项目:输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、电源电流I<Sub>CC</Sub>、输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub> 等 11 项,点击展开全部
检测对象:半导体集成电路TTL电路
检测对象:半导体器件集成电路存储器
检测对象:集成电路模拟/数字转换器
检测对象:集成电路数字/模拟转换器
检测对象:半导体集成电路微处理器及外围接口电路
检测对象:半导体集成电路模拟开关
检测对象:半导体集成电路时基电路
检测对象:CMOS数字集成电路
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
集成电路模拟数字、数字模拟转换器测试方法 GJB 9388-2018
检测项目:电源电流I<Sub>CC</Sub>、功耗P<Sub>W</Sub>、模拟输入电流I<Sub>I</Sub>、增益误差E<Sub>G</Sub>、失调误差E<Sub>O</Sub>、满度误差E<Sub>FS</Sub>、直流电源抑制比PSRR<Sub>DC</Sub>、双极零点误差E<Sub>BZ</Sub> 等 11 项,点击展开全部
检测对象:集成电路模拟/数字转换器
检测对象:集成电路数字/模拟转换器
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项目:输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输出高电平电流I<Sub>OH</Sub>、输出低电平电流I<Sub>OL</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub> 等 11 项,点击展开全部
检测对象:半导体集成电路模拟开关
检测对象:半导体集成电路时基电路
检测对象:CMOS数字集成电路
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项目:输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、开环电压增益A<Sub>VD</Sub>、最大共模输入电压V<Sub>ICM</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub> 等 11 项,点击展开全部
检测对象:半导体集成电路电压比较器
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
检测项目:输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、电源电流I<Sub>CC</Sub>、输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输出高阻态时高电平电流I<Sub>OZH</Sub>、输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub> 等 9 项,点击展开全部
检测对象:半导体集成电路TTL电路
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项目:输出电压V<Sub>O</Sub>、输出电流I<Sub>O</Sub>、输出纹波电压V<Sub>RIP</Sub>、电压调整率S<Sub>V</Sub>、电流调整率S<Sub>I</Sub>、输入电流I<Sub>I</Sub>、启动过冲V<Sub>TO</Sub>、启动延迟t<Sub>TR</Sub> 等 9 项,点击展开全部
检测对象:混合集成电路DC/DC电源模块
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项目:复位电压V<Sub>R</Sub>、复位电流I<Sub>R</Sub>、触发电压V<Sub>TR</Sub>、触发电流I<Sub>TR</Sub>、阈值电压V<Sub>T</Sub>、阈值电流I<Sub>T</Sub>、控制端电压V<Sub>C</Sub>、静态电源电流I<Sub>+</Sub>
检测对象:半导体集成电路时基电路
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目:电压调整率S<Sub>V</Sub>、电流调整率S<Sub>I</Sub>、电源纹波抑制比S<Sub>RIP</Sub>、输出噪声电压V<Sub>NO</Sub>、耗散电流I<Sub>D</Sub>和耗散电流变化△I<Sub>D</Sub>、基准电压V<Sub>REF</Sub>、最小输入输出电压差V<Sub>DROP</Sub>、输出电压V<Sub>O</Sub>和输出电压偏差△V<Sub>O</Sub>
检测对象:半导体集成电路电压调整器
半导体集成电路模拟开关测试方法
检测项目:导通电阻R<Sub>on</Sub>、截止态漏极漏电流I<Sub>Doff</Sub>、截止态源极漏电流I<Sub>Soff</Sub>、导通态漏电流I<Sub>DSon</Sub>、开启时间t<Sub>on</Sub>、关断时间t<Sub>off</Sub>、导通电阻路差△R<Sub>on</Sub>
检测对象:半导体集成电路模拟开关
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
检测项目:功耗P<Sub>W</Sub>、数字输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、数字输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、数字输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、数字输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、增益误差E<Sub>G</Sub>、失调误差E<Sub>O</Sub>
检测对象:集成电路模拟/数字转换器
检测对象:集成电路数字/模拟转换器