数据更新时间
2026-05-12
按“热阻”筛选，展示 5 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 4 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
JESD51-14:2010
一维传热路径下半导体器件结壳热阻瞬态双界面测试法
检测项目：热阻
检测对象：绝缘栅双极型晶体管、金属-氧化物半导体场效应晶体管
JEDEC JESD24-3:1990(2002)
垂直功率MOSFET的热阻抗测量（Δ源极-漏极电压法）
检测项目：热阻
检测对象：绝缘栅双极型晶体管、金属-氧化物半导体场效应晶体管
MIL-STD-750-3w/CHANGE 2:2023
半导体器件 晶体管电气测试方法 第3部分:测试方法3000至3999 方法
检测项目：热阻
检测对象：绝缘栅双极型晶体管、金属-氧化物半导体场效应晶体管
GJB 128B-2021
半导体分立器件试验方法 方法
检测项目：热阻
检测对象：绝缘栅双极型晶体管、金属-氧化物半导体场效应晶体管