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数据更新时间
2026-05-12
当前展示该机构前 26 条能力；该机构共 26 条能力记录。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
SJ/T 11706-2018
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
检测项目：输入高电平电压、输入低电平电压、输出高电平电压、输出低电平电压、静态接口电源电流、静态内核电源电流、上电电流、输入低电平漏电流（IIL） 等 13 项，点击展开全部
检测对象：现场可编程门阵列
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
检测项目：建立时间和保持时间、存储单元0变1功能、存储单元1变0功能、特殊数据图形功能、输出高电平电压和输出低电平电压、输入高电平电压和输入低电平电压、输入高电平电流和输入低电平电流、输出高电平电流和输出低电平电流 等 9 项，点击展开全部
检测对象：快闪存储器
半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇第2节
检测项目：输出高电平电压和输出低电平电压（VOH 或VOL）、输入高电平电流和输入低电平电流（IIH 或IIL）、输出高阻态电流IOZ、建立时间和保持时间
检测对象：数字集成电路