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数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T36477-2018”筛选，展示 9 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
检测项目：建立时间和保持时间、存储单元0变1功能、存储单元1变0功能、特殊数据图形功能、输出高电平电压和输出低电平电压、输入高电平电压和输入低电平电压、输入高电平电流和输入低电平电流、输出高电平电流和输出低电平电流 等 9 项，点击展开全部
检测对象：快闪存储器