成都天奥技术发展有限公司

GJB 548B-2005

微电路试验方法和程序 方法

GJB 128A-1997

半导体分立器件试验方法 方法

GJB 360B-2009

电子及电气元件试验方法 方法

GJB 548C-2021

微电子器件试验方法和程序 方法

GJB 128B-2021

半导体分立器件试验方法 方法

GJB 65B-1999

有可靠性指标的电磁继电器总规范

GJB 65C-2021

有失效率等级的电磁继电器通用规范

GJB 1461A-2017

大功率电磁继电器通用规范 3.10、

GJB 1042A-2002

电磁继电器通用规范 3.7、

GJB 1515B-2017

固体继电器通用规范 3.9、

GJB 4027A-2006

军用电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目0101-2.3、0106-2.4、0204-2.3、0205-2.3、0206-2.3、0207-2.4、0209-2.3、0401-2.3、0501-2.3、0601-2.4、0701-2.4、0702-2.5、0703-2.3、0801-2.3、0901-2.5、0902-2.4、1002-2.5、1003-2.6、1101-2.5、1102-2.5、1201-2.5、1202-2.5、1301-2.5、1501-

GJB 4027B-2021

军用电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目0101-2.4、0204-2.4、0205-2.4、0206-2.4、0209-2.4、0401-2.4、0501-2.4、0703-2.4、0801-2.4、0106-2.5、0207-2.5、0601-2.5、0701-2.5、1001-2.5、1002-2.5、1501-2.5、 0702-2.6、0901-2.6、0902-2.6、1003-2.6、1101-2.6、1102-2.6、1201-2.6、1202-2.6、1301-