数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
半导体器件机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命 GB/T 4937.23-2023 5.2.3.2
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温 GB/T 2423.1-2008
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温 GB/T 2423.2-2008
环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化 GB/T 2423.22-2012
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ta:润湿称量法可焊性 GB/T 2423.32-2008
环境试验 第2部分:试验方法 试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热 GB/T 2423.40-2013
环境试验 第2部分:试验方法 试验Cy:恒定湿热主要用于元件的加速试验 GB/T 2423.50-2012
半导体器件机械和气候试验方法 第21部分:可焊性 GB/T 4937.21-2018
天津天芯微系统集成研究院有限公司可靠性实验室已整理公开能力范围,可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 GB/T 4937.23-2023、GB/T 2423.1-2008、GB/T 2423.2-2008、GB/T 2423.22-2012、GB/T 2423.32-2008、GB/T 2423.40-2013 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 封装器件、半导体器件、电工电子产品、半导体分立器件、微电子器件、电子及电气元件 等,具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途,需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告;报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
建议换成标准号、检测对象或检测项目关键词再试,或切换到其他分公司查看。