当前查看：天津天芯微系统集成研究院有限公司可靠性实验室
天津市
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数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T 4937.4-2012”筛选，展示 1 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体器件机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
检测项目：强加速稳态湿热试验
检测对象：半导体器件