数据更新时间
2026-05-12
按“力”筛选，展示 44 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 11 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
AEC_Q100_REV_J-2023
基于集成电路应力测试认证的失效机理 A
检测项目：高温存储试验、高温工作寿命试验、恒定湿热试验、温度循环试验、功率温度循环试验、高加速温湿度应力偏压试验、无偏压高加速温湿度应力试验、预处理试验 等 20 项，点击展开全部
检测对象：车载集成电路
AEC_Q101_REV_E-2021
基于失效机制的汽车应用中分立半导体的应力测试认证 A
检测项目：高温高湿反偏、温度循环试验、功率温度循环试验、高加速温湿度应力偏压试验、无偏压高加速温湿度应力试验、预处理试验、高加速蒸煮试验、高温栅偏 等 15 项，点击展开全部
检测对象：分立元器件
JESD22-A110E.01-2021
高加速温湿度应力偏压试验
检测项目：高加速温湿度应力偏压试验
检测对象：电子元器件
JESD22-A118B.01-2021
无偏压高加速温湿度应力试验
检测项目：无偏压高加速温湿度应力试验
检测对象：电子元器件
JESD22-B116B-2017
绑线剪切力试验
检测项目：绑线剪切力
检测对象：电子元器件
JESD22-B120.01-2024
绑线拉力试验
检测项目：绑线拉力
检测对象：电子元器件
JESD22-B117B-2014
锡球剪切力试验
检测项目：锡球剪切力
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-001-REV-C-1998
线键合剪切测试
检测项目：绑线剪切力
检测对象：电子元器件
AEC-Q101-003-REV-A-2005
线键合剪切测试
检测项目：绑线剪切力
检测对象：电子元器件
MIL-STD-883-2-2019
微电路机械测试方法 第 2 部分 方法
检测项目：绑线拉力
检测对象：电子元器件
AEC-Q100-010-REV-A-2003
焊球剪切测试
检测项目：锡球剪切力
检测对象：电子元器件