数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
半导体器件-分立器件-第8部分:场效应晶体管测试 IEC 60747-8:2010+AMD1: 方法6.3.6
汽车电力电子转换单元的功率模块认证 AQG 324-2025 7.1
汽车电力电子转换单元的功率模块认证 AQG 324-2021 7.2
半导体器件-第9部分:分立器件-绝缘栅双极型晶体管测试(IGBT) IEC 60747-9:2019 Edition 3.0 方法6.2.2
半导体器件 晶体管电气测试方法 第3部分:测试方法3000至3999 MIL-STD-750-3w/CHANGE 2-2023 方法 3479
半导体器件-第2部分:分立器件-整流二极管测试 IEC 60747-2:2016 方法6.1.2
半导体器件 二极管电气测试方法 第4部分:测试方法4000至4999 MIL-STD-750-4w/CHANGE 4-2023 方法4001.1
半导体器件-第9部分:分立器件-绝缘栅双极型晶体管测试(IGBT) IEC 60747-9：2019 Edition 3.0 方法 6.3.10
东莞南方半导体科技有限公司松山湖半导体检测分析实验室已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 IEC 60747-8:2010+AMD1:2021、AQG 324-2025、AQG 324-2021、IEC 60747-9:2019 Edition 3.0、MIL-STD-750-3w/CHANGE 2-2023、IEC 60747-2:2016 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 半导体器件、绝缘栅双极型晶体管、金属-氧化物半导体场效应晶体管、二极管 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
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