数据更新时间
2026-05-12
按“阈值”筛选，展示 3 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC 60747-9:2019 Edition 3.0
半导体器件-第9部分:分立器件-绝缘栅双极型晶体管测试(IGBT) 方法
检测项目：阈值电压
检测对象：绝缘栅双极型晶体管、金属-氧化物半导体场效应晶体管
MIL-STD-750-3w/CHANGE 2-2023
半导体器件 晶体管电气测试方法 第3部分:测试方法3000至3999 方法
检测项目：阈值电压
检测对象：绝缘栅双极型晶体管、金属-氧化物半导体场效应晶体管
IEC 60747-8:2010+AMD1:2021
半导体器件-分立器件-第8部分:场效应晶体管测试 方法
检测项目：阈值电压
检测对象：绝缘栅双极型晶体管、金属-氧化物半导体场效应晶体管