数据更新时间
2026-05-12
按“H”筛选，展示 25 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 8 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
MIL-STD-750-3w/CHANGE 2-2023
半导体器件 晶体管电气测试方法 第3部分:测试方法3000至3999 方法
检测项目：击穿电压、通态电压、通态电阻、阈值电压、栅极漏电流、截止电流、正向跨导、短路耐受时间
检测对象：绝缘栅双极型晶体管、金属-氧化物半导体场效应晶体管
MIL-STD-750-4w/CHANGE 4-2023
半导体器件 二极管电气测试方法 第4部分:测试方法4000至4999 方法
检测项目：正向电压、浪涌电流、反向漏电流、击穿电压、电容、雪崩能量
检测对象：二极管
MIL-STD-750-2Bw/CHANGE 1-2023
半导体器件的机械试验方法 第2部分:试验方法2001至2999 方法
检测项目：键合拉力强度、芯片剪切、端子强度
检测对象：半导体器件
MIL-STD-750-1Bw/CHANGE 2-2023
半导体器件环境试验方法第1部分:试验方法1000至1999 方法
检测项目：稳态试验、间歇工作寿命、高温反偏试验
检测对象：半导体器件
IEC 60068-2-64-2008+AMD 1:2019
环境试验-第2-64部分:试验-Fh试验:振动,宽带随机和指南
检测项目：振动试验
检测对象：半导体器件
AEC-Q101-001-REV-A July 18,2005
车用分立半导体元器件的基于失效机理的应用测试验证 附件1 人体模型(HBM)静电放电(ESD)测试
检测项目：静电放电人体模型
检测对象：半导体器件
JEDEC JESD22-A110E.01:2021
高加速温湿度应力试验(HAST)
检测项目：高加速应力试验
检测对象：半导体器件
JEDEC JESD22-A118B.01:2021
加速耐湿性-无偏置高加速应力试验HAST
检测项目：无偏置高加速应力试验
检测对象：半导体器件