当前查看：北京航空航天大学杭州创新研究院微电子与信息材料检测中心
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数据更新时间
2026-05-12
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多晶体X射线衍射方法通则 JY/T 0587-2020
检测项目：X射线/物相定性分析
检测对象：电子电气产品及其原材料