苏试宜特苏州检测技术有限公司

GJB 548C-2021

微电子器件试验方法和程序 方法

GJB 548B-2005

微电子器件试验方法和程序 方法

GJB 4027B-2021

军用电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目

GJB 128B-2021

半导体分立器件试验方法 方法

MIL-STD-883L 2019

国防部标准微电路测试方法 方法

GJB 360B-2009

电子及电气元件试验方法 方法

JESD22-B117B 2014

焊球剪切 /

GB/T 4937.30-2018/IEC 60749-30:2011

半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理 /

IPC/JEDEC J-STD-020F 2022

非气密性封装表贴器件潮湿敏感度分级试验方法 /

JESD22-A105D 2020

功率和温度循环 /

ECPE Guideline AQG 324

功率循环

AEC-Q100-010-REV-A 2003

焊球剪切试验 /

IPC-A-610H 2020

电子组件的可接受性

JESD22-B101D 2022

外部目检 /

GB/T 4937.3-2012/IEC 60749-3:2002

半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检 /

JESD201A 2008

锡和锡合金表面处理的锡须敏感性的环境验收要求 /

JESD22-A121A 2008

锡和锡合金表面上晶须生长测量的测试方法 /

JESD22-B100B 2003

物理尺寸 /

IPC/JEDEC J-STD-035A 2022

非气密性封装元件的声学显微镜检查方法 /

AEC-Q101-003-REV-A 2005

引线键合剪切试验 /

AEC-Q100-002-REV-E 2013

人体模型静电放电测试 /

AEC-Q101-001-REV-A 2005

人体模型静电放电试验 /

AEC-Q200-002-REV-B 2010

人体模型静电放电试验 /

JESD22-A114F-2008

静电放电敏感性试验人体模型 /

ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2023

静电放电敏感度测试 人体模型-器件级别 /

AEC-Q100-003-REV-E 2003

机器模型静电放电测试 /

AEC-Q101-002-REV-A 2005

机器模型静电放电测试 /

JESD22-A115C-2010

静电放电敏感性试验机器模型 /

AEC-Q100-004-REV-D 2012

集成电路闩锁测试 /

JESD78F.01 2022

集成电路闩锁测试 /

SJ 20954-2006

集成电路锁定试验 /

GJB 9389-2018

集成电路锁定试验方法

ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2022

静电放电敏感度测试 带电器件模型-器件级别 /

JESD22-C101F 2013

微电子器件静电放电耐受阈值的场感应充电器件模型测试方法 /

AEC-Q100-011 Rev-D 2019

带电器件模型静电放电试验 /

AEC-Q101-005-REV-A 2019

带电器件模型静电放电试验 /

JESD22-B119 2018

机械抗压静态应力测试法 /

IPC/JEDEC-9702

板级互连的单调弯曲特性 /

AEC-Q200-005-REV-A 2010

板弯曲测试 /

AEC-Q101-004-REV 1996

混合测试方法

ANSI/EIA-469-E-2017

陶瓷单片电容器的破坏性物理分析（DPA）的标准试验方法 /

IEC 61000-4-2:2025

电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验 /

电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验 /

AEC-Q100-008-REV-A 2003

早期寿命失效率 /

MIL-STD-750-2B 2022

国防部标准电子及电气元件部件测试方法 方法

GJB128A-1997

半导体分立器件试验方法 方法