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数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T 4937.30-2018”筛选，展示 1 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GB/T 4937.30-2018/IEC 60749-30:2011
半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理 /
检测项目：预处理
检测对象：电子元器件