数据更新时间
2026-05-12
按“烘烤”筛选,展示 6 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
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军用电子元器件失效分析要求与方法 GJB8897-2017 方法
军用电子元器件失效分析要求与方法 GJB8897-2017 方法
检测项目:高温烘烤
检测对象:金属膜固定电阻器失效分析
检测对象:片式膜固定电阻器失效分析
检测对象:多层瓷介电容器失效分析
检测对象:固体电解质钽电容器失效分析
检测对象:非固体电解质钽电容器失效分析
检测对象:片式固体电解质钽电容器失效分析