数据更新时间
2026-05-12
按“U”筛选，展示 24 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB 9147﹣2017
半导体集成电路运算放大器测试方法
检测项目：输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、输出峰峰电压V<Sub>OPP</Sub> 等 10 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路运算放大器
SJ/T 10805﹣2018
半导体集成电路电压比较器测试方法
检测项目：输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>、开环电压增益A<Sub>VD</Sub>、输出漏电流I<Sub>leak</Sub>、输出吸入电流I<Sub>sink</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub> 等 9 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路电压比较器
GB/T 4377﹣2018
半导体集成电路电压调整器测试方法
检测项目：基准电压V<Sub>REF</Sub>、电压调整率S<Sub>V</Sub>、电流调整率S<Sub>I</Sub>、电源纹波抑制比S<Sub>rip</Sub>、短路电流I<Sub>OS</Sub>
检测对象：半导体集成电路电压调整器